เมื่อวันที่ 24 กรกฎาคม 2566 ที่ผ่านมา ดร.ยุทธนา หงษ์อารมณ์กิจ ผู้เชี่ยวชาญด้านมาตรวิทยา ฝ่ายมาตรวิทยามิติ สถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ ร่วมเปรียบเทียบผลการวัดระหว่างห้องปฏิบัติการ (Interlaboraty Compairision) สำหรับเครื่องมือวัด 2 รายการ คือ Profile Projector และ Measuring Microscope ระหว่างห้องปฏิบัติการสอบเทียบบริษัท สุมิพล คอร์ปอเรชั่น จำกัด และ สถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ เป็นเวลา 3 วัน ระหว่างวันที่ 24 – 26 กรกฎาคม 2566 ณ สถาบันเทคโนโลยีการผลิตสุมิพล (SIMTEC) โดยการสนับสนุนของบริษัท มิตูโตโย (ประเทศไทย) จำกัด ให้ใช้เครื่องมือวัดสำหรับการเปรียบเทียบผลภายใน Mitutoyo Instrument of Metrology (MIM) ตามโครงการความร่วมมือระหว่างสถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ และ บริษัท สุมิพล คอร์ปอเรชั่น จำกัด โดยมี นายสมชาย เปิ้นวงษ์ ผู้จัดการแผนกบริการด้านเทคนิคการวัด บริษัท สุมิพล คอร์ปอเรชั่น จำกัด เป็นผู้ให้การต้อนรับ
